XTRACE | BRUKER NANO

Benutzerfreundliches RFA-System für Rasterelektronenmikroskope

Für den renomierten Analyse- und Messtechnik Hersteller BRUKER NANO haben wir die Gehäusegestaltung des QUANTAX Mikro-RF übernommen.

Das XTrace kann an einen Flansch fast jeden Rasterelektronenmikroskops angeschlossen werden.

Durch das optimierte und vereinfachte Design der Bauteile kann der Nutzer von der hohen Empfindlichkeit sowie von der besseren Informationstiefe der RFA profitieren.